2022/07/11 12:38
中国:半導体後工程の利揚芯片、3nm検査ソリューション開発
半導体後工程の広東利揚芯片測試(グアンドン・リードヨ・ICテスティング:688135/SH)は8日、3ナノメートル(nm)先進プロセス半導体のテスティング(検査)ソリューションの開発に世界で初めて成…
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